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薄膜材料磁導率測試
日期：2022-10-24 09:38:14
厚度小于1微米的膜材料，稱為薄膜材料，主要應用領域為半導體功能器件和光學鍍膜領域。針對薄膜材料的介電常數和磁導率，同惠的TH2851阻抗分析儀配合相關夾具及軟件，推出了全套的解決方案。
具體方案
測試對象：薄膜，厚度10μm-100μm；
測試要求：頻率1-20MHz；磁導率范圍50-200
通過在磁性材料周圍纏繞導線并測量導線末端的阻抗，復磁導率是通過測量磁性材料的阻抗參數計算得來的。TH26088是專為測量磁性材料的磁導率而設計的夾具，可配置單匝電感器，并將材料模制成環形，單匝電感器中沒有漏磁，夾具中的磁場嚴格按照電磁理論計算。
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